a b c d e f g h i j k l m n o p q r s t u v w x y z #

Difraktometri

XRD Print

  • Malvern Panaytical Empyrean Series 3 difrakcijski sistem konfiguriran za veoma široki raspon primjena i eksperimenata. Sistem je jednostavan za upotrebu a istovremeno omogućava dobivanje rezultata najveće moguće kvalitete. Mogućnosti koje instrument nudi su:
    -Fazna (kvalitativna) analiza anorganskih i organskih praškastih , krutih i pastoznih materijala
    -Strukturna i kvantitativna analiza Rietveld metodom
    -Fazna kvantitativna i semikvantitativna analiza
    -Proučavanje strukturnih promjena pod utjecajem visoke temperature (do 1200OC)
    -Fazna analiza tankih filmova (kristaliničnih i amorfnih)
    -Mapiranje uzorka (mikrodifrakcija) s veličinom “spota” od 100 mikrona
    -Određivanje veličine, oblika i distribucije veličina nano čestica metodom raspršenja na niskom kutu (SAXS) za uzorke koji mogu biti krutine, praškasti , emullzije, koloidi, otopine makromolekula veoma niskih koncentracija, pastozni materijal itd
    -2D SAXS za određivanje uređenosti i orijentacije nano čestica
    -Reflektometrija za određivanje debljine, hrapavosti i gustoće tankih filmova i višeslojnih sistema tankih filmova
    -2D GISAXS metoda za proučavanje tankih filmova , posebno filmova koji se sastoje od nano čestica ili nano struktura
    -Kompjuterizirana tomografija (CT) malih objekata s 3D rekonstrukcijom
    -Određivanje veličine kristalita
    -Određivanje zaostale napetosti u materialu (Residual Stress)
    -Analizu orijentacije kristalita u materijalu (Texture)