Modularni XRD uređaj

XRD

Malvern Panaytical Empyrean Series 3 difrakcijski sistem konfiguriran za veoma široki raspon primjena i eksperimenata. Sistem je jednostavan za upotrebu a istovremeno omogućava dobivanje rezultata najveće moguće kvalitete. Mogućnosti koje instrument nudi su:
-Fazna (kvalitativna) analiza anorganskih i organskih praškastih , krutih i pastoznih materijala
-Strukturna i kvantitativna analiza Rietveld metodom
-Fazna kvantitativna i semikvantitativna analiza
-Proučavanje strukturnih promjena pod utjecajem visoke temperature (do 1200OC)
-Fazna analiza tankih filmova (kristaliničnih i amorfnih)
-Mapiranje uzorka (mikrodifrakcija) s veličinom “spota” od 100 mikrona
-Određivanje veličine, oblika i distribucije veličina nano čestica metodom raspršenja na niskom kutu (SAXS) za uzorke koji mogu biti krutine, praškasti , emullzije, koloidi, otopine makromolekula veoma niskih koncentracija, pastozni materijal itd
-2D SAXS za određivanje uređenosti i orijentacije nano čestica
-Reflektometrija za određivanje debljine, hrapavosti i gustoće tankih filmova i višeslojnih sistema tankih filmova
-2D GISAXS metoda za proučavanje tankih filmova , posebno filmova koji se sastoje od nano čestica ili nano struktura
-Kompjuterizirana tomografija (CT) malih objekata s 3D rekonstrukcijom
-Određivanje veličine kristalita
-Određivanje zaostale napetosti u materialu (Residual Stress)
-Analizu orijentacije kristalita u materijalu (Texture)
1