Što razlikuje običan materijal od vrhunskog proizvoda?
Odgovor se često krije duboko unutar njegove kristalne strukture. Upravo zato rendgenska difrakcija (XRD) danas predstavlja jednu od najvažnijih metoda karakterizacije materijala u znanosti i industriji.

XRD (X-Ray Diffraction) je nedestruktivna metoda koja omogućuje istraživanje unutarnje strukture materijala na atomskoj razini. Kada rendgenske zrake prolaze kroz kristalni materijal, dolazi do njihove difrakcije, stvarajući karakterističan uzorak koji sadrži informacije o kristalnoj strukturi i sastavu materijala. Takav difraktogram može se promatrati kao svojevrsni „otisak prsta“ kristalne faze.

Jedna od najvećih prednosti XRD metode jest mogućnost identifikacije kristalnih faza. Bez obzira radi li se o cementu, keramici, metalima, polimerima, mineralima, farmaceutskim proizvodima ili naprednim nanomaterijalima, XRD omogućuje precizno određivanje koje se kristalne faze nalaze u uzorku. Time se mogu otkriti nečistoće, pratiti kemijske reakcije te analizirati promjene nastale tijekom proizvodnje ili uporabe materijala.

Osim identifikacije faza, XRD pruža informacije o stupnju kristaliniteta, veličini kristalita, zaostalim naprezanjima i preferiranoj orijentaciji kristala. Takvi podaci ključni su za razumijevanje mehaničkih, toplinskih, električnih i kemijskih svojstava materijala.

Industrijska primjena XRD metode iznimno je široka. U građevinskoj industriji koristi se za analizu cementa, betona i geopolimera te praćenje procesa hidratacije i degradacije materijala. U metalurgiji omogućuje identifikaciju faza nastalih toplinskom obradom i kontrolu kvalitete legura. U farmaceutskoj industriji koristi se za određivanje kristalnih oblika aktivnih tvari koji mogu značajno utjecati na topljivost i učinkovitost lijekova.

Polimerna industrija koristi XRD za određivanje kristaliniteta i istraživanje utjecaja punila i aditiva na strukturu materijala. U području nanotehnologije metoda omogućuje određivanje veličine kristalita i praćenje razvoja novih funkcionalnih materijala za energetiku, elektroniku i zaštitu okoliša.

Posebno važnu ulogu XRD ima u istraživanju uzroka kvarova i problema u proizvodnji. Promjene kristalne strukture često predstavljaju prvi znak degradacije materijala, korozije, toplinskog oštećenja ili neadekvatnih proizvodnih uvjeta. Pravovremena identifikacija takvih promjena može značajno smanjiti troškove proizvodnje i povećati pouzdanost proizvoda.

Suvremeni višenamjenski difraktometri omogućuju mnogo više od klasične difrakcije. Napredne tehnike poput HT-XRD (visokotemperaturna difrakcija), SAXS, WAXS, GISAXS, GIXRD i μXRD pružaju detaljan uvid u ponašanje materijala tijekom zagrijavanja, strukturu tankih filmova, nanostrukturiranih materijala i složenih kompozita.

Na Kemijsko-tehnološkom fakultetu Sveučilišta u Splitu dostupna je moderna XRD infrastruktura koja omogućuje karakterizaciju širokog spektra materijala te pruža podršku industriji u razvoju novih proizvoda, optimizaciji proizvodnih procesa i rješavanju tehnoloških izazova.

Dok ljudsko oko vidi samo površinu materijala, XRD otkriva njegovu unutarnju kristalnu arhitekturu. Upravo te informacije često predstavljaju ključ za razumijevanje svojstava materijala, razvoj inovacija i stvaranje konkurentske prednosti na tržištu.

S velikim zadovoljstvom pozivamo Vas da prisustvujete XI. godišnjoj skupštini Udruge bivših studenata i prijatelja Kemijsko-tehnološkog fakulteta u Splitu koja će se održati 27. veljače (utorak) 2024.godine s početkom u 17.30 sati u amfiteatru A02 u prizemlju zgrade 3 fakulteta, Ruđera Boškovića 35.

Po završetku radnog dijela Skupštine predavanje pod nazivom:
                     „Koje su vještine potrebne za osigurati posao u struci?“
održat će naša bivša studentica, Tea Vukić, mag. chem., voditeljica laboratorija za analizu ulja, Capax d.o.o.
Po završetku predavanja nastavit ćemo s prigodnim druženjem.

PROJEKTNO RAZDOBLJE 1991.-1996.   PROJEKTNO RAZDOBLJE 1996.-2002.   PROJEKTNO RAZDOBLJE 2002.-2006.   PROJEKTNO RAZDOBLJE 2007.-2014.

Popis svih projekta Kemijsko-tehnološkog fakulteta dostupan je na poveznici CroRIS projekti institucije :  

• NANOISEM
• Funkcionalna integracija Sveučilišta u Splitu...
• HETMIX

• NAZELLT
• NaPro-Flav
• BioActCom
• BioSMe

Objavljujemo natječaje za zapošljavanje na otvorene pozicije u INA, lokacija Rijeka:

Inženjer procesne tehnologije https://www.linkedin.com/jobs/view/4160862153/?capColoOverride=true
Kontrolor energetskih procesa https://www.linkedin.com/jobs/view/4160862048/?capColoOverride=true

Prvi Dan karijera Kemijsko-tehnološkog fakulteta u Splitu (KTF) održan je u utorak 4. lipnja 2024. u amfiteatru A02. Studentima KTF-a predstavilo se ukupno 17 tvrtki i institucija s kojima Fakultet ima uspješnu suradnju i to: AD Plastik d.d., Aluflexpack Novi d.o.o., Bobis d.o.o., Capax d.o.o., Cekom 3LJ, Cemex Hrvatska d.d., Čistoća d.o.o. Split, Fornix d.o.o., Grupa Pivac, Ljekarna Splitsko-dalmatinske županije, Meliori Polymer Engineering d.o.o., Petason d.o.o., Studentski centar Split, Tommy d.o.o., Violeta d.o.o. te Nastavni zavod za javno zdravstvo Splitsko-dalmatinske županije i Prirodoslovna škola Split.

U suvremenom razvoju materijala, kontroli kvalitete i istraživanju uzroka kvarova često nije dovoljno znati samo kemijski sastav uzorka. Jednako je važno razumjeti kako su pojedine komponente raspoređene, kakva je morfologija površine te na koji način mikrostruktura utječe na konačna svojstva proizvoda. Upravo zbog toga pretražna elektronska mikroskopija (SEM), energijski disperzivna rendgenska spektroskopija (EDS) i EDS mapping danas predstavljaju jedne od najvažnijih metoda karakterizacije materijala.

Što nam otkriva SEM?

Pretražna elektronska mikroskopija (Scanning Electron Microscopy – SEM) omogućuje promatranje površine materijala pri povećanjima koja višestruko nadmašuju mogućnosti optičke mikroskopije. Elektronski snop skenira površinu uzorka stvarajući detaljne slike koje otkrivaju njegovu teksturu, morfologiju i mikrostrukturu.

SEM analizom moguće je istraživati:

• oblik i veličinu čestica
• poroznost materijala
• prisutnost pukotina i defekata
• raspored vlakana u kompozitima
• strukturu premaza i tankih filmova
• korozijske produkte na metalnim površinama
• homogenost i kvalitetu površinske obrade

Zahvaljujući velikoj dubinskoj oštrini, SEM slike često izgledaju gotovo trodimenzionalno, omogućujući istraživačima detaljan uvid u površinsku strukturu materijala.

EDS – kemijski sastav pod elektronskim snopom

Iako SEM daje iznimno detaljne slike, sam po sebi ne može odgovoriti na pitanje od kojih se elemenata promatrani materijal sastoji. Tu na scenu stupa EDS (Energy Dispersive Spectroscopy).
EDS sustav registrira karakteristično rendgensko zračenje koje nastaje interakcijom elektronskog snopa s uzorkom te omogućuje određivanje elementnog sastava analiziranog područja.

Na taj način moguće je:

• identificirati prisutne elemente
• odrediti približan udio pojedinih elemenata
• usporediti sastav različitih faza materijala
• identificirati nečistoće i kontaminante
• analizirati korozijske produkte
• pratiti migraciju elemenata tijekom procesa

Primjerice, ako se na površini proizvoda pojavi nepoznata čestica, EDS analiza može u svega nekoliko minuta pokazati sadrži li ona željezo, silicij, kalcij, aluminij, titan ili neki drugi element koji može ukazati na njezino podrijetlo.

EDS mapping – kada sastav postane slika

Jedan od najmoćnijih alata suvremene elektronske mikroskopije jest EDS mapping. Za razliku od klasične EDS analize koja daje sastav samo u jednoj točki ili na ograničenom području, EDS mapping prikazuje raspodjelu pojedinih elemenata preko cijele promatrane površine.
Rezultat je vizualna karta na kojoj je moguće vidjeti gdje se pojedini elementi nalaze i kako su međusobno raspoređeni.
Takve karte omogućuju:
procjenu homogenosti materijala
identifikaciju segregacije elemenata
praćenje raspodjele punila u kompozitima
analizu distribucije aditiva u polimerima
istraživanje korozijskih procesa
određivanje sastava više faza unutar istog uzorka

Umjesto da se sastav prikazuje samo brojčano, istraživač dobiva „kemijsku fotografiju“ površine materijala.

Zašto je to važno za industriju?

Industrijski problemi često nastaju upravo na mikrostrukturnoj razini. Mala pukotina, nehomogena raspodjela punila, prisutnost nečistoće ili lokalna promjena sastava mogu značajno utjecati na performanse proizvoda.

Primjenom SEM-a, EDS-a i EDS mappinga moguće je:

Brže pronaći uzrok problema

Umjesto dugotrajnog nagađanja, analiza može precizno pokazati gdje se nalazi problem i što ga uzrokuje.

Optimizirati formulacije materijala

Kod polimera, kompozita i građevinskih materijala moguće je pratiti raspodjelu punila, vlakana i aditiva te optimizirati njihov udio.

Poboljšati kontrolu kvalitete

Mikrostrukturne nepravilnosti mogu se otkriti prije nego što uzrokuju kvarove ili reklamacije.

Razvijati nove proizvode

Razumijevanje odnosa između strukture i svojstava omogućuje ciljano projektiranje materijala s poboljšanim performansama.

Primjene u različitim industrijama

SEM i EDS tehnologije danas se koriste u gotovo svim granama industrije:

• polimeri i kompoziti
• farmaceutska industrija
• metalurgija i strojogradnja
• građevinski materijali
• energetika
• elektronika
• zaštita okoliša
• nanotehnologija
• prehrambena industrija

Od analize mikroplastike u okolišu do istraživanja naprednih nanomaterijala, ove metode omogućuju detaljno razumijevanje materijala koje je teško postići bilo kojom drugom tehnikom.

Na Kemijsko-tehnološkom fakultetu Sveučilišta u Splitu dostupna je suvremena SEM/EDS infrastruktura koja je nabavljena kroz projekt Funkcionalna integracija Sveučilišta u Splitu, PMF-ST, PF-ST te KTF-ST kroz razvoj znanstveno-istraživačke infrastrukture u Zgradi tri fakulteta (KK.01.1.1.02.0018) a ista je instalirana na PMF-u u Splitu koja omogućuje detaljnu morfološku i kemijsku karakterizaciju različitih vrsta materijala. Kombinacijom visokorezolucijske elektronske mikroskopije i napredne elementne analize moguće je dobiti informacije koje pomažu industriji u razvoju novih proizvoda, optimizaciji procesa i rješavanju složenih tehnoloških izazova.

Poštovani studenti,

Nastavnici i suradnici koji zbog sudjelovanja u štrajku najavljenom za dan 19. ožujka 2025. godine (srijeda) neće održavati nastavu/laboratorijske vježbe, o odgodi nastave/laboratorijskih vježbi će vas pravodobno obavijestit putem svojih komunikacijskih kanala.

Ostala nastava će se odvijati prema planiranom rasporedu.

Uprava Kemijsko-tehnološkog fakulteta u Splitu

Ad1.) za izbor jednog izvršitelja (m/ž) na suradničko radno mjesto - asistent iz znanstvenog područja Tehničke znanosti, znanstveno polje Kemijsko inženjerstvo, za rad u Zavodu za organsku tehnologiju, na određeno vrijeme u punom radnom vremenu

Ad2.) za izbor jednog izvršitelja (m/ž) na suradničko radno mjesto - asistent iz znanstvenog područja Prirodne znanosti, znanstveno polje Kemija, za rad u Zavodu za fizikalnu kemiju, na određeno vrijeme u punom radnom vremenu

Pristupnici osim općih uvjeta utvrđenih Zakonom o radu  (NN 93/14., 127/17., 98/19., 151/22., 46/23., 64/23.) moraju ispunjavati i uvjete utvrđene odredbama Zakona o visokom obrazovanju i znanstvenoj djelatnosti (NN 119/22.) te Pravilnika o provedbi postupka, uvjetima i kriterijima za izbor na suradnička radna mjesta i izbor naslovnih suradnika na Kemijsko-tehnološkom fakultetu u Splitu (Pravilnik)

Pristupnici pod točkama Ad1.) i Ad2.) dužni su priložiti u elektroničkom obliku (USB i sl.):

1. potpisan Obrazac br. 1 dostupan na:

https://www.ktf.unist.hr/images/stories/repozitorij/Dekanat/Obrazac_br.1.pdf

1. životopis
2. presliku diplome o završenom odgovarajućem sveučilišnom diplomskom ili sveučilišnom integriranom prijediplomskom i diplomskom studiju
3. ovjereni prijepis ocjena s prosjekom ili presliku dopunske isprave o studiju za sveučilišni prijediplomski i diplomski studij, odnosno sveučilišni integrirani prijediplomski i diplomski studij
4. dokaz o ispunjenosti obveznog dodatnog kriterija Fakulteta: poznavanje engleskog jezika, minimalna razina B2 izdana od strane ovlaštene ustanove (kandidati koji ne dostave dokaz o ispunjenosti obveznog dodatnog kriterija neće se smatrati kandidatima natječajnog postupka)
5. kada je primjenjivo: prikaz znanstvene, nastavne, odnosno stručne djelatnosti, popis radova, radove, odnosno separate radova relevantnih za izbor
6. kada je primjenjivo: dokaze o ispunjenosti ostalih kriterija koji se vrednuju pri izboru na suradničko radno mjesto asistenta sukladno Pravilniku o provedbi postupka, uvjetima i kriterijima za izbor na suradnička radna mjesta i izbor naslovnih suradnika na Kemijsko-tehnološkom fakultetu u Splitu
7. kada je primjenjivo: rješenje o priznavanju inozemne obrazovne kvalifikacije za pristupnike koji su kvalifikaciju stekli u inozemstvu
8. kada je primjenjivo: dokaz o znanju hrvatskog jezika (C2-napredno znanje) za pristupnike koji su strani državljani prema Zajedničkim europskim referentnim okvirom za jezike. 

                                              

Ad3.) za izbor jednog izvršitelja (m/ž) na znanstveno-nastavno radno mjesto – docent iz znanstvenog područja Prirodne znanosti, znanstveno polje Kemija, za rad u Zavodu za organsku kemiju, na neodređeno vrijeme, u punom radnom vremenu

Ad4.) za izbor jednog izvršitelja (m/ž) na znanstveno-nastavno radno mjesto – docent iz znanstvenog područja Prirodne znanosti, znanstveno polje Kemija, za rad u Zavodu za biokemiju, na neodređeno vrijeme, u punom radnom vremenu

Pristupnici osim općih uvjeta utvrđenih Zakonom o radu (NN 93/14., 127/17., 98/19., 151/22., 46/23., 64/23.), moraju ispunjavati i uvjete utvrđene odredbama Zakona o visokom obrazovanju i znanstvenoj djelatnosti (NN 119/22.), Odluke o nužnim uvjetima za ocjenu nastavne i znanstveno-stručne djelatnosti u postupku izbora u znanstveno-nastavna zvanja (NN 122/17., 120/21.), Preciziranih uvjeta Rektorskog zbora KTF (https://www.ktf.unist.hr/images/stories/repozitorij/Dekanat/Precizirani_uvjeti_rektorskog_zbora_2019.pdf) te Pravilnika o raspisivanju i provedbi javnih natječaja na Sveučilištu u Splitu (https://www.ffst.unist.hr/_download/repository/Pravilnik_o_raspisivanju_i_provedbi_javnih_natjecaja.pdf).

Pristupnici pod točkama Ad3.) i Ad4.) dužni su priložiti u elektroničkom obliku (USB i sl.):

1. potpisanu prijavu na natječaj
2. životopis
3. presliku diplome o stečenom doktoratu znanosti
4. prikaz znanstvene, nastavne odnosno stručne djelatnosti, popis radova, radove, odnosno separate radova relevantnih za izbor te drugu odgovarajuću dokumentaciju o ispunjavanju uvjeta za izbor sukladno važećim aktima
5. kada je primjenjivo: dokaz o izboru u znanstveno zvanje
6. kada je primjenjivo: rješenje o priznavanju inozemne obrazovne kvalifikacije za pristupnike koji su kvalifikaciju stekli u inozemstvu
7. kada je primjenjivo: dokaz o znanju hrvatskog jezika (C2-napredno znanje) za pristupnike koji su strani državljani prema Zajedničkim europskim referentnim okvirom za jezike          

 

Rok za podnošenje prijave za pristupnike pod točkama Ad1.), Ad2.), Ad3.) i Ad4.) je do uključivo s datumom 10. rujna 2025. godine.

 

***********

Na natječaj se, pod jednakim uvjetima, imaju pravo javiti osobe oba spola.

S pristupnicima koji ispunjavaju formalne uvjete natječaja, provest će se razgovor.

S pristupnicima se može provesti pisana provjera znanja i sposobnosti bitnih za obavljanje poslova radnog mjesta putem pisane provjere znanja i psihološko testiranje .

Svi podaci o pisanoj provjeri znanja objavit će se na službenoj mrežnoj stranici Kemijsko-tehnološkog fakulteta u Splitu (u daljnjem tekstu: Fakultet)

https://www.ktf.unist.hr/index.php/natjecaji/natje%C4%8Daji najmanje 5 (pet) dana prije održavanja. Svi podaci o psihološkom testiranju objavit će se na službenoj mrežnoj stranici Fakulteta https://www.ktf.unist.hr/index.php/natjecaji/natje%C4%8Daji najmanje 3 (tri) dana prije održavanja samog testiranja.  O mjestu i vremenu održavanja pisane provjere i psihološkog testiranja pristupnici će biti obaviješteni elektroničkom porukom na adresu elektroničke pošte koju navedu u prijavi.

Ukoliko pristupnik ne pristupi razgovoru, psihološkom testiranju ili pisanoj provjeri znanja smatrat će se da je povukao prijavu na natječaj i neće se smatrati kandidatom natječaja. Pristupnici, koji se na temelju posebnih propisa - Zakon o hrvatskim braniteljima iz Domovinskog rata i članovima njihovih obitelji (NN 121/17., 98/19., 84/21., 156/23.), čl. 48. Zakona o zaštiti vojnih i civilnih invalida rata (NN 33/92., 77/92., 27/93., 58/93., 2/94., 76/94., 108/95., 108/96., 82/01., 103/03., 148/13., 98/19.), čl. 9. Zakona o profesionalnoj rehabilitaciji i zapošljavanju osoba s invaliditetom (NN 157/13., 152/14., 39/18., 32/20.), čl. 48. Zakona o civilnim stradalnicima iz Domovinskog rata (NN 84/21.), čl. 22. Ustavnog zakona o pravima nacionalnih manjina (NN 155/02., 47/10., 80/10., 93/11.) pozivaju na pravo prednosti pri zapošljavanju, obvezni su u prijavi na natječaj pozvati se na to pravo, te priložiti sve dokaze koje posebni propisi propisuju za ostvarivanje tog prava. Takvi pristupnici ostvaruju prednost pri zapošljavanju u odnosu na ostale pristupnike, samo pod jednakim uvjetima.

Za pristupnike koji se u prijavi na natječaj pozivaju na pravo prednosti pri zapošljavanju prema Zakonu o hrvatskim braniteljima iz domovinskog rata i članovima njihovih obitelji (NN 121/17., 98/19., 84/21., 156/23.) i Zakona o civilnim stradalnicima iz Domovinskog rata (NN 84/21) popis dokaza potreban za ostvarivanje tog prava dostupan je na poveznici Ministarstva hrvatskih branitelja https://branitelji.gov.hr/zaposljavanje-843/843

Podnošenjem prijave na natječaj, pristupnici natječaja izričito su suglasni da Fakultet kao voditelj zbirke osobnih podataka može prikupljati, koristiti i dalje obrađivati podatke u svrhu provedbe natječajnog  postupka, sukladno Općoj uredbi o zaštiti podataka (Uredba EU 2016/679 Europskog parlamenta i Vijeća), Zakona o provedbi Opće uredbe o zaštiti podataka (NN 42/18.) i drugim pozitivnim propisima.

Urednom i potpunom prijavom smatra se prijava koja sadrži sve podatke i sve priloge tražene u natječaju i koja je vlastoručno potpisana od kandidata koji je podnio prijavu na natječaj. Prijave s dokazima o ispunjavanju uvjeta iz natječaja, podnose se isključivo poštom na adresu: Kemijsko-tehnološki fakultet u Splitu, Ruđera Boškovića 35, 21000 Split, s naznakom „Za natječaj“.

Nepravovremene i nepotpune prijave neće se razmatrati, niti će podnositelji takvih prijava naknadno biti pozvani na dopunu prijave.

O rezultatima natječaja pristupnici će biti obaviješteni u zakonskom roku elektroničkom porukom na adresu elektroničke pošte navedene u prijavi na natječaj.

                                                                                  

                                                                           Dekan

                                                                           prof. dr. sc. Matko Erceg                                           

U razvoju novih materijala, kontroli kvalitete i rješavanju proizvodnih problema često nije dovoljno znati samo od čega je materijal izrađen. Jednako je važno razumjeti kako se ponaša tijekom zagrijavanja i koje spojeve pritom oslobađa. Upravo tu svoju snagu pokazuje spregnuti sustav termogravimetrijske analize (TG), FTIR spektroskopije i infracrvene mikroskopije.

Ova napredna analitička kombinacija omogućuje praćenje promjena mase materijala tijekom zagrijavanja, identifikaciju plinova koji nastaju tijekom razgradnje te detaljnu kemijsku karakterizaciju mikroskopskih čestica i ostataka. Drugim riječima, istraživači mogu istovremeno pratiti što se događa s materijalom i zašto se to događa.

Termogravimetrijska analiza (TG) pokazuje pri kojoj temperaturi dolazi do gubitka mase, isparavanja ili razgradnje materijala. Istovremeno, FTIR spektroskopija analizira plinove koji nastaju tijekom procesa te omogućuje njihovu identifikaciju. Kada je potrebno dodatno istražiti sitne čestice, inkluzije ili ostatke nakon razgradnje, FTIR mikroskop PerkinElmer Spotlight 200 omogućuje kemijsku analizu područja veličine svega nekoliko mikrometara.

Za industriju to znači znatno brže pronalaženje uzroka problema u proizvodnji. Primjerice, moguće je utvrditi zašto dolazi do degradacije polimera tijekom prerade, identificirati nepoznata onečišćenja u sirovinama, analizirati stabilnost farmaceutskih proizvoda ili odrediti sastav složenih kompozitnih materijala.

Posebno značajnu primjenu sustav nalazi u industriji polimera i plastike, proizvodnji kompozita, farmaceutskoj industriji, energetici, građevinskim materijalima te zaštiti okoliša. Analiza emisija tijekom zagrijavanja materijala može pomoći u razvoju sigurnijih proizvoda, optimizaciji proizvodnih procesa i smanjenju troškova razvoja.

Spregnuti sustav TG-FTIR s FTIR mikroskopom PerkinElmer Spotlight 200 predstavlja primjer kako suvremena analitička tehnologija omogućuje potpuniji uvid u ponašanje materijala nego ikada prije. Umjesto pojedinačnih informacija, industrija dobiva cjelovitu sliku procesa – od promjene mase i kemijskog sastava oslobođenih plinova do identifikacije mikroskopskih čestica koje mogu biti ključ za razumijevanje problema.

Na Kemijsko-tehnološkom fakultetu Sveučilišta u Splitu ovakva infrastruktura omogućuje gospodarstvu pristup vrhunskim analitičkim metodama koje pomažu u razvoju inovativnih proizvoda, kontroli kvalitete i rješavanju najsloženijih tehnoloških izazova.

Jer ponekad odgovor na pitanje zašto materijal ne radi ono što očekujemo leži u plinu koji je oslobodio, čestici koju ne možemo vidjeti golim okom ili promjeni mase od svega nekoliko miligrama.

INA dodjeljuje STEM stipendije studentima kemijskog inženjerstva i tehnologije. Kroz program stipendiranja budući inženjeri dobivaju podršku u razvoju praktičnih vještina u pravom poslovnom okruženju te su im otvorena vrata prema prvim profesionalnim iskustvima u kompaniji.

 STEM stipendija uključuje:

• 3000 € godišnje
• zadržavanje stipendije do kraja studija
• stručnu praksu u Rafineriji nafte Rijeka uz podršku Ininih mentora
• stručnu podršku u izradi završnog ili diplomskog rada
• mogućnost zaposlenja nakon završetka studija u Rafineriji nafte Rijeka

Zainteresirani kandidati mogu se prijaviti na natječaj do 6. siječnja 2026.

https://molgroup.taleo.net/careersection/external/jobsearch.ftl?lang=hr&location=4205100397

Svi detalji i uvjeti natječaja nalaze se na Ininoj web stranici: https://karijera.ina.hr/hr/ina-i-mladi

Za sve dodatne upite obratite se na: stipendije@ina.hr

Mnoge industrije koriste toplinske metode poput DSC-a, TGA-e ili TG-FTIR-a kako bi pratile ponašanje materijala pri povišenim temperaturama. Te metode daju vrijedne informacije o toplinskim efektima, gubitku mase ili oslobađanju plinova, ali često ne mogu odgovoriti na najvažnije pitanje:

Koje su se strukturne promjene dogodile u materijalu?

Upravo tu HT-XRD (visokotemperaturna rendgenska difrakcija) pruža jedinstvenu prednost. Ova metoda omogućuje izravno praćenje kristalne strukture materijala tijekom zagrijavanja, čime se može točno odrediti kada nastaju nove faze, koje faze nestaju te kako se materijal mijenja tijekom proizvodnog procesa ili eksploatacije.

Koju korist industrija ima od HT-XRD analize?

HT-XRD omogućuje:

• optimizaciju temperatura proizvodnje i toplinske obrade
• identifikaciju uzroka nestabilnosti materijala
• razvoj novih formulacija proizvoda
• praćenje faznih transformacija tijekom proizvodnje
• procjenu temperaturne stabilnosti materijala
• smanjenje troškova razvoja i ispitivanja

Primjeri primjene u industriji

Građevinski materijali i geopolimeri

HT-XRD omogućuje praćenje promjena mineralnih faza tijekom pečenja, sinteriranja ili izlaganja visokim temperaturama. Time se mogu optimizirati recepture cementa, geopolimera, keramike i vatrostalnih materijala.

Metalurgija

Praćenje nastanka i raspada faza tijekom toplinske obrade omogućuje preciznije definiranje tehnoloških parametara te razvoj materijala boljih mehaničkih svojstava.

Polimeri i kompoziti

Analizom kristalizacije i promjena kristalnosti moguće je optimizirati preradu polimera te poboljšati njihovu toplinsku i mehaničku stabilnost.

Energetski i baterijski materijali

HT-XRD omogućuje istraživanje stabilnosti materijala pri radnim temperaturama te razvoj dugotrajnijih i pouzdanijih sustava za pohranu energije.

Zašto HT-XRD kada već postoje DSC ili TGA?

DSC može pokazati da se pri određenoj temperaturi dogodila reakcija.

TGA može pokazati da je došlo do gubitka mase.

TG-FTIR može pokazati koji su plinovi nastali.

HT-XRD pokazuje koji je materijal nastao ili nestao tijekom tog procesa.

Drugim riječima, HT-XRD ne pokazuje samo da se promjena dogodila, nego objašnjava njezin uzrok i posljedicu na strukturu materijala.

Donošenje boljih odluka temeljenih na podacima

Za industriju to znači manje pokušaja i pogrešaka tijekom razvoja proizvoda, kraće vrijeme razvoja, bolju kontrolu kvalitete i veću pouzdanost proizvodnih procesa. HT-XRD pruža informacije koje omogućuju donošenje odluka temeljenih na stvarnim strukturnim promjenama materijala, a ne samo na indirektnim pokazateljima.

Kada je potrebno razumjeti kako se materijal ponaša pri povišenim temperaturama i koje promjene određuju njegova konačna svojstva, HT-XRD predstavlja jednu od najvrjednijih analitičkih metoda dostupnih industriji.

Kako brzo utvrditi je li sirovina ispravna, je li proizvod proizveden prema specifikaciji ili zašto je došlo do promjene kvalitete materijala? Jedan od najmoćnijih alata za odgovore na takva pitanja je infracrvena spektroskopija s Fourierovom transformacijom, poznatija kao FTIR.

FTIR spektroskopija omogućuje identifikaciju kemijskog sastava materijala analizom interakcije infracrvenog zračenja s molekulama uzorka. Svaki materijal posjeduje jedinstveni spektar koji se može promatrati kao svojevrsni „kemijski otisak prsta“, što omogućuje brzo prepoznavanje tvari i otkrivanje promjena u njihovom sastavu.

Posebna prednost FTIR tehnike je njezina prilagodljivost različitim vrstama uzoraka. U transmisijskom načinu rada infracrveno zračenje prolazi kroz tanki uzorak, što omogućuje detaljnu analizu sastava filmova, folija, vlakana i drugih prozirnih ili poluprozirnih materijala. Ova metoda često se koristi u istraživanju polimera, ambalažnih materijala i farmaceutskih pripravaka.

S druge strane, UATR (Universal Attenuated Total Reflectance) tehnika omogućuje analizu čvrstih materijala, prahova, granula, tekućina i pasta bez složene pripreme uzorka. Dovoljno je uzorak postaviti na ATR kristal i u nekoliko sekundi dobiti informacije o njegovom kemijskom sastavu. Upravo zbog svoje jednostavnosti UATR je postao jedna od najčešće korištenih FTIR tehnika u industrijskim laboratorijima.

Primjene FTIR spektroskopije iznimno su široke. Koristi se za identifikaciju polimera i plastike, kontrolu kvalitete sirovina i proizvoda, analizu premaza i adheziva, karakterizaciju kompozita, istraživanje biomaterijala te analizu onečišćivala i okolišnih uzoraka. U mnogim slučajevima FTIR omogućuje brzo otkrivanje uzroka problema u proizvodnji, smanjujući vrijeme zastoja i troškove razvoja.

Na Kemijsko-tehnološkom fakultetu Sveučilišta u Splitu dostupna je suvremena FTIR oprema koja omogućuje analizu uzoraka primjenom transmisijske i UATR tehnike te pruža stručnu podršku industriji u razvoju proizvoda, kontroli kvalitete i rješavanju tehnoloških izazova.

Kada je potrebno brzo i pouzdano saznati što se nalazi u materijalu, FTIR spektroskopija često predstavlja najkraći put do odgovora.

Poštovane kolegice i kolege,

Pozivamo Vas da nam se u prosincu pridružite na Adventu s udrugama na Kemijsko-tehnološkom fakultetu.

Program možete pronaći na stranicama Udruga te na poveznicama u nastavku.

5. prosinca od 13:15 u predavaonici F402 Kemijsko-tehnološkog fakulteta – HKD

Doc. dr. sc. Marina Tranfić Bakić održat će predavanje pod nazivom „Proteini i Nobelova nagrada za kemiju 2024.“ (Nobelova nagrada za kemiju 2024. za računalni dizajn proteina i predikciju njihove strukture). Predavanje je usmjereno studentima kemije, računarstva, medicine i farmacije, ali i drugima koji o toj temi žele nešto novo naučiti.

12. prosinca od 13:15 u predavaonici F402 Kemijsko-tehnološkog fakulteta – UKITS

Šibenski TLM (Impol) održat će predavanje našim studentima i zainteresiranim nastavnicima te ostalim članovima Udruga, u kojem će predstaviti svoju tvrtku s fokusom na mogućnosti zapošljavanja i suradnje na projektima.

18. prosinca od 17:30 u velikom amfiteatru Zgrade tri fakulteta (A02) – Alumni

Marko Parat, mag. chem., zamjenik ravnatelja SC Split održat će predavanje na temu "Karijera nakon KTF-a" u sklopu tradicionalnog božićnog druženja bivših studenata i prijatelja KTFa.